作为光学产业中应用最广泛的传感器,HeadWall 公司的同轴成像传感器采用该公司专利的色差校正系统,具有极高的光谱和空间分辨率,同时具有可重复性的精度。通过特殊设计和制造的衍射系 统,Headwall公司的高光谱仪可以消除因杂散光和温度变异而产生的色差。除了这种专利的色差校正技术,高光谱仪还具有极宽的视野和非常高的信噪比。
Headwall公司高光谱仪的同记录像素数据通过将VNIR和SWIR光谱范围的高衍射性进行联合,再结合电子系统极高的量子效率,可产生优异的成像性能,达到行业中极高的信噪比值。
VNIR检测器采用定制的 sCMOS焦平面阵列技术,SWIR检测器应用Stirling冷却优化的MCT阵列。Headwall公司的同记录机载VNIR-SWIR检测系统大小 约15” x 15” x 8” (381mm x 381mm x 203mm),重约26 磅 (11.7 公斤),其中也包含数据处理系统,这样大小和重量的系统十分适合应用在大型无人机等高空平台上。
核心优势
l 全反射光学设计
l 采用原始刻划光栅
l 极好的成像性能
l 宽波段覆盖400-2500nm
l VNIR/SWIR像素图像配准
l 体积小,重量轻
l 梯形失真和曲线弯曲全部采用硬件修正
l 稳定和耐用的坚固设计
l 杰出的光谱/空间分辨率
l 理想的弱照明、弱信号环境下的应用
l 结构紧凑、宽视场角
l 非常高的信噪比
l 低散射或者杂散光水平
应用:
l 机载遥感
l 精准农业
l 矿物分析、采矿探矿
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